DeFelsko Positest-GM เกจวัดความหนาสีแบบไม่ทำลายพื้นผิว 0-8 mils |Non-Destructive

เกจวัดความหนาสีแบบไม่ทำลายพื้นผิว

เกจวัดความหนาผิวเคลือบแบบ Magnetic Pull-Off (Banana Gauge) ใช้สำหรับการวัดความหนาของชั้นเคลือบที่ไม่เป็นแม่เหล็กบนพื้นผิวเหล็กแบบไม่ทำลายชิ้นงาน เช่น paint, enamel, galvanizing, metalizing, plating

จุดเด่น

ความแม่นยำ

• ให้ค่าการวัดที่แม่นยำและเชื่อถือได้

• มาพร้อมใบรับรองการสอบเทียบ (Certificate of Calibration) มาตรฐาน PTB

• ผ่านการปรับเทียบมาตรฐานการ Calibration ในทุก ๆ กระบวนการ

• โพรบเซนเซอร์ทำจาก Carbide จึงมีอายุการใช้งานที่ยาวนานและให้ความแม่นยำได้ต่อเนื่อง

• สามารถถอดฝาครอบตรงกลางหน้าปัด เพื่อปรับตั้งค่าการสอบเทียบได้อย่างสะดวก

ความแข็งแรง ทนทาน

• ตัวเกจแข็งแรงทนทานต่อ การกระแทก, น้ำ, กรด หรือสารทำละลาย

• การออกแบบโดยเฉพาะ เพื่อรองรับการวัดในทุก ๆ ตำแหน่ง จึงไม่มีการหมุนหรือเอียงในขณะที่วัด

• สามารถใช้งานได้ทั้งแบบวางแนบเต็มพื้นที่ หรือสัมผัสเฉพาะบริเวณหัววัดด้านหน้า

• ใช้แม่เหล็กถาวรชนิด Rare-Earth Cobalt ในการทำงาน

• ไม่ต้องใช้แบตเตอรี่และพลังงานจากไฟฟ้า

• สามารถวัดชิ้นงานขนาดเล็กได้หลากหลายรูปทรงอย่างง่ายดาย

การใช้งาน

• มีสัญญาณภาพและเสียงแสดงสถานะเมื่อได้ค่าความหนาที่ถูกต้องแล้ว

• ช่องโพรบแบบ V grooves จึงสามารถวัดค่าได้ตรงจุดบนวัตถุทรงกลม

• ขนาดกะทัดรัด น้ำหนักเบา ความแม่นยำสูง และแรงโน้มถ่วงของโลกไม่ส่งผลต่อค่าการวัด

• ปุ่ม GO / NO-GO สามารถตั้งค่าไว้ล่วงหน้า เพื่อการตรวจวัดอย่างรวดเร็ว

• ใช้งานได้ด้วยมือเดียวด้วยโพรบและหน้าปัดแบบหมุนได้

ช่วงการวัด

0 to 8 mils (±0.04 mils up to 0.8 mils, ±5% of the reading over 0.8 mils)

PosiTest Models

PosiTest FM	PosiTest F	PosiTest GM	PosiTest G
Application
Hot dip galvanizing, hard chrome metalizing, paint, enamel, plastic coatings on steel.	Hot dip galvanizing, hard chrome metalizing, paint, enamel, plastic coatings on steel.	Electroplating, thin paint films, phosphating on steel.	Electroplating, thin paint films, phosphating on steel.
Scale
0 to 80 mils	0 to 2000 µm	0 to 8 mils	0 to 200 µm
Tolerance
± 0.2 mils up to 4 mils ±5% of the reading over 4 mils	±5 µm up to 100 µm ±5% of the reading over 100 µm	±0.04 mils up to 0.8 mils ±5% of the reading over 0.8 mils	±1 µm up to 20 µm ±5% of the reading over 20 µm